Die Gruppenstrahler-Prüftechnik (Phased Array) ermöglicht durch die zeitverzögerte Ansteuerung der einzelnen Elemente eines Gruppenstrahlerprüfkopfes eine Manipulation des Schallfeldes. So lassen sich verschiedene Einschallwinkel erzeugen, wodurch auf einmal ganze Volumina abgescannt werden können. Zudem kann mit Gruppenstrahlerprüfköpfen die Fokuslage variiert werden, womit sich eine Verbesserung der Bildgebung bei bildgebenden Verfahren basierend auf Ultraschall erreichen lässt. Die meisten kommerziell verfügbaren Phased Array Systeme für die Zerstörungsfreie Prüfung arbeiten mit Linear Arrays. Dabei haben Annular Arrays großes Potential bei der Entwicklung neuartiger Messverfahren für die ZfP. Sie ermöglichen beispielsweise eine punktförmige Fokussierung entlang ihrer akustischen Achse mit, im Vergleich zu Linien- oder Matrix-Arrays, wenigen Elementen. Weiterhin beinhaltet die Schalldruckverteilung auf den Arrayelementen Information, aus der eine Bestimmung von Form und Größe von Reflektoren möglich ist. In dieser Arbeit werden zwei neue Verfahren für Ultraschall Annular-Arrays vorgestellt: Ein Verfahren zur simultanen Bestimmung von Schichtdicken und Schallgeschwindigkeiten geschichteter Strukturen sowie ein Verfahren zur Klassifikation von Einschlüssen in kugel- oder kreisscheibenförmig.